作為一種快速、準(zhǔn)無損的分析技術(shù)——XRF熒光光譜儀得到了廣泛的應(yīng)用。為了了解當(dāng)前XRF的使用范圍和新領(lǐng)域的增長潛力，我們請(qǐng)一些專家對(duì)于XRF的重要的應(yīng)用領(lǐng)域、以及面臨的挑戰(zhàn)、與其他技術(shù)的競爭優(yōu)勢等問題進(jìn)行了評(píng)論。

　　XRF在地質(zhì)相關(guān)領(lǐng)域的應(yīng)用不斷在增長，“地質(zhì)學(xué)家、地質(zhì)工程師、實(shí)驗(yàn)室技術(shù)人員、鉆井地質(zhì)學(xué)家、鉆井液錄入工和地球化學(xué)家都使用XRF，”陶氏化學(xué)的研究科學(xué)家Lora Brehm指出。例如，使用便攜XRF系統(tǒng)配合井下采礦和能源勘探，以及化學(xué)地層研究是進(jìn)行核心掃描。“由于電感耦合等離子體發(fā)射光譜 (ICP-OES)和原子吸收光譜(AAS)需要使用酸分解樣品，以至于不適于現(xiàn)場分析，但XRF*可以，特別是小型化的儀器。”

　　芝加哥洛約拉大學(xué)副教授Martina Schmeling也表達(dá)了同樣的意見，“便攜性和現(xiàn)場易用性顯然是XRF的發(fā)展趨勢，”并稱XRF在天然氣勘探等領(lǐng)域也可以應(yīng)用，而且該方法具有非常出色的穩(wěn)定性和易用性。“與質(zhì)譜(MS)方法相比，XRF有很多優(yōu)勢，其中主要的一點(diǎn)是不需要載氣和其他消耗品，”她說到。“需要重點(diǎn)記住的一件事是，火星上有XRF，而沒有ICP-MS。”

　　華盛頓州立大學(xué)的分析化學(xué)助理教授Ursula Fittschen，從更廣泛的角度看待XRF與其他技術(shù)的競爭。他指出，XRF的使用取決于分析物的含量水平和其他因素。“傳統(tǒng)XRF儀器吸引力的是在耐火材料分析等應(yīng)用中具有ppm級(jí)水平，”但是，她指出，對(duì)于ppb級(jí)的微量元素分析， ICP-OES是主力，只要樣品量不受限制、消解又很簡單。對(duì)于有限的樣本，微觀分析工具如全反射XRF或石墨爐原子吸收光譜可能是一個(gè)更好的選擇。“對(duì)于ppt水平的檢測，需要ICP-MS，”她補(bǔ)充道。

　　幾個(gè)專家都提到了如鋼鐵行業(yè)的質(zhì)量控制過程中的應(yīng)用，“鋼鐵產(chǎn)品的精度非常高，波散XRF是必要的，”京都大學(xué)教授Jun Kawai說，“一臺(tái)有40塊晶體的XRF儀器能夠同時(shí)測量40個(gè)元素。”

　　XRF在工業(yè)領(lǐng)域的應(yīng)用不只是用于質(zhì)量控制，CTL集團(tuán)的*科學(xué)家Don Broton指出。“物相鑒定和無標(biāo)分析的XRF增強(qiáng)了制造工廠迅速評(píng)估替代材料和配方的能力，以及不同制造過程的副產(chǎn)品，”他說。“更好地表征這些‘廢品’使其能夠得到更多的循環(huán)使用，會(huì)加快帶來一個(gè)綠色的未來。”

　　維也納大學(xué)教授Christina Streli表示，“未來，XRF在文物、環(huán)境、醫(yī)學(xué)和其他領(lǐng)域的應(yīng)用價(jià)值，將會(huì)被越來越多的人看到。”

　　洛薩拉摩斯國家實(shí)驗(yàn)室的George Havrilla同意這一觀點(diǎn)，并稱，在文物研究領(lǐng)域XRF已經(jīng)證明了它的價(jià)值。“micro XRF對(duì)藝術(shù)品的快速成像分析將給藝術(shù)起源帶來新見解，”他說。“這些技術(shù)揭示了色素是在不斷降解的，使我們明白，我們今天看到的一些藝術(shù)品的顏色與當(dāng)初藝術(shù)家畫上去時(shí)是不一樣的。”

　　Havrilla還指出，光學(xué)鑷子的進(jìn)展使得用XRF能夠檢測到單個(gè)細(xì)胞的“mechanical manipulation”，進(jìn)而使活體細(xì)胞內(nèi)容物的元素成像成為可能，這可以讓我們對(duì)生物機(jī)制有新的理解。

　　日本筑波國家材料科學(xué)研究所教授、團(tuán)體*Kenji Sakurai，也看到了XRF進(jìn)行化學(xué)狀態(tài)分析的進(jìn)展，包括X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)(XAFS)和X射線近邊吸收(XANES) 技術(shù)的XRF檢測在同步加速器中應(yīng)用取得的重要成就。“我相信，在科學(xué)和許多工程領(lǐng)域XRF化學(xué)狀態(tài)分析將帶來新的機(jī)遇。”

XRF熒光光譜儀產(chǎn)品介紹：

性能特點(diǎn)

下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求
準(zhǔn)直器和濾光片：多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換，滿足各種測試方式的應(yīng)用
移動(dòng)平臺(tái)：精細(xì)的手動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)，方便定位測試點(diǎn)
高分辨率探測器：提高分析的準(zhǔn)確性
新一代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測試效率

技術(shù)指標(biāo)

元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）
分析檢出限可達(dá)1ppm
分析含量一般為1ppm到99.99％
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃
電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
能量分辨率：160±5eV
外觀尺寸： 550×416×333mm
樣品腔尺寸：460×298×98mm
重量：45Kg

標(biāo)準(zhǔn)配置

移動(dòng)樣品平臺(tái)
電制冷Si-PIN探測器
信號(hào)檢測電子電路
高低壓電源
大功率X光管
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)

應(yīng)用領(lǐng)域

RoHS檢測分析
地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析
金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測